Lịch sử sửa đổi của “BIST”

Từ Từ điển công nghệ

Chọn so sánh: Đánh dấu để chọn các phiên bản để so sánh rồi nhấn Enter hoặc nút ở dưới.
Chú giải: (hiện) = khác với phiên bản hiện hành, (trước) = khác với phiên bản trước, n = sửa đổi nhỏ.

  • (hiện | trước) 09:15, ngày 24 tháng 9 năm 2007TXT (Thảo luận | đóng góp). . (222 byte) (+222). . (New page: '''Built-In Self-Test (BIST)''', là một kỹ thuật kiểm tra vi mạch một cách tự động trong đó kiến trúc của mô-đun kiểm tra được tích hợp lên vi mạch....)