Kết quả tìm kiếm

Từ Từ điển công nghệ
  • …năng kiểm tra vi mạch đó. Nhờ các kĩ thuật DfT, việc kiểm tra (test) các vi mạch được thực hiện dễ dàng hơn, hiệu quả [[Thể loại:Thiết kế vi mạch]]
    464 byte (108 từ) - 04:44, ngày 12 tháng 10 năm 2007
  • …c dùng trong các kiến trúc kiểm tra tự động ([[BIST]]) trong thiết kế vi mạch. MISR giúp chúng ta nén dữ liệu cần phân tích. [[Thể loại:Thiết kế để kiểm tra]]
    397 byte (88 từ) - 04:04, ngày 20 tháng 11 năm 2007