BIST
Từ Từ điển công nghệ
Built-In Self-Test (BIST), là một kỹ thuật kiểm tra vi mạch một cách tự động trong đó kiến trúc của mô-đun kiểm tra được tích hợp lên vi mạch.
- Trang này được sửa đổi lần cuối lúc 09:15 ngày 24 tháng 9 năm 2007.
- Nội dung được phát hành theo Attribution-Noncommercial-No Derivative Works 3.0 , ngoại trừ khi có ghi chú khác.
- Quy định về quyền riêng tư
- Giới thiệu Từ điển công nghệ
- Phủ nhận