Kết quả tìm kiếm

Tạo trang “Thiết kế kiểm tra” trên wiki này! Xem thêm các kết quả tìm kiếm:

• DfT
  …năng kiểm tra vi mạch đó. Nhờ các kĩ thuật DfT, việc kiểm tra (test) các vi mạch được thực hiện dễ dàng hơn, hiệu quả [[Thể loại:Thiết kế vi mạch]]
  464 byte (108 từ) - 05:44, ngày 12 tháng 10 năm 2007
• Functional simulation
  …a các hoạt động của mạch, của hệ thống so với yêu cầu thiết kế. [[Thể loại:Thiết kế vi mạch]]
  413 byte (94 từ) - 06:49, ngày 15 tháng 10 năm 2007
• Functional test
  …t kế vi mạch điện tử nhằm chỉ một loạt kĩ thuật kiểm tra vi mạch nhằm tìm kiếm lỗi xuất hiện trong quá trình sản xu * [[Structural test|Phương pháp kiểm tra dựa vào cấu trúc]]
  564 byte (141 từ) - 08:03, ngày 21 tháng 10 năm 2007
• Structural test
  …t kế vi mạch điện tử nhằm chỉ một loạt kĩ thuật kiểm tra vi mạch nhằm tìm kiếm lỗi xuất hiện trong quá trình sản xu * [[Structural test|Phương pháp kiểm tra dựa vào chức năng]]
  557 byte (141 từ) - 08:05, ngày 21 tháng 10 năm 2007
• Primary input
  …c lối vào mà chúng ta có thể điều khiển được bằng các thiết bị điện tử bên ngoài thông qua tiếp xúc vật lý trực tiế [[Thể loại:Thiết kế vi mạch]]
  454 byte (108 từ) - 08:22, ngày 21 tháng 10 năm 2007
• Cadence
  …ãng chuyên cung cấp các công cụ hỗ trợ thiết kế và kiểm tra vi mạch từ mức hệ thống đến mức vật lý. == Liên kết ngoài ==
  394 byte (86 từ) - 08:26, ngày 21 tháng 10 năm 2007
• MISR
  …c dùng trong các kiến trúc kiểm tra tự động ([[BIST]]) trong thiết kế vi mạch. MISR giúp chúng ta nén dữ liệu cần phân tích. [[Thể loại:Thiết kế để kiểm tra]]
  397 byte (88 từ) - 05:04, ngày 20 tháng 11 năm 2007